高速串行测试技术与无线测试技术是推动最新测试测量设备行业发展的两大重要领域。他们对高频率测试技术和能够支持多种现行标准的技术都有一定的要求。随着技术的发展，电子设计与测试需求日益复杂化，而产品的面市时间与量产时间也面临着更大的挑战。在此背景下，EDN China 召开测试测量研讨会，邀请业内资深实力的技术供应商及专家介绍各种不同的解决方案，协助中国工程师应对各种不同的设计挑战，开拓中国工程师在测试解决方案领域的新视野。
安捷伦、泰克、RIOGL等知名厂商带来了精彩的演讲。这些测量企业将带来最先进的测试方案、测量技术，以及测试测量产业的最新情报。R&S公司区域业务发展总监 Samuel Lur发表了“使用R&S创新示波器实现多域高效调试”的演讲；Agilent大中国区市场经理杜吉伟带来了精彩的“2012年示波器测试测量技术创新展望”报告；Tektronix行业渠道销售经理王跃伟发表了“最新的混合域分析技术及应用”的演讲；RIGOL应用工程师叶昊生现场演示了“RIGOL最新测试解决方案及产品”；LeCroy 华南地区经理汪进进介绍了“高速串行信号测试的新挑战及力科测试解决方案专题”。研讨会现场高潮迭起，众多听众均表示受益匪浅。
精彩图集
图1：EDNchina测试与测量研讨会现场
图2：R&S公司区域业务发展总监 Samuel Lur发表“使用R&S创新示波器实现多域高效调试”演讲
图3：研讨会现场示波器展示吸引焦点
图4：4号会议室吸引大量专业观众
图5：Tektronix行业渠道销售经理王跃伟发表“最新的混合域分析技术及应用”的演讲
图6：Tektronix行业渠道销售经理王跃伟发表了“最新的混合域分析技术及应用”的演讲
图7：RIGOL应用工程师叶昊生现场演示了“RIGOL最新测试解决方案及产品”
图8：RIGOL应用工程师叶昊生现场演示了“RIGOL最新测试解决方案及产品”
图9：LeCroy 华南地区经理汪进进介绍“高速串行信号测试的新挑战及力科测试解决方案专题”
图10：LeCroy 华南地区经理汪进进介绍“高速串行信号测试的新挑战及力科测试解决方案专题”
图11：LeCroy 华南地区经理汪进进介绍“高速串行信号测试的新挑战及力科测试解决方案专题”
图12：抽奖现场
图13：抽奖现场
图14：抽奖现场
图15：IIC-China汽车大奖得主是EDNchina研讨会忠实听众，而且中得EDNchina硬盘大奖
