应用材料集团副总裁暨台湾区总裁余定陆表示,3DIC及FinFET制程将持续引爆半导体业的投资热潮,亦促使创新的设备材料陆续问世。
应用材料(AppliedMaterials)集团副总裁暨台湾区总裁余定陆表示,随着行动装置的功能推陈出新,及联网装置数量急遽增加,数据资料因而同步出现爆炸性成长,驱动物联网、巨量资料(BigData)等应用热潮;而为储存与传输这些庞大资料,晶片架构设计亦逐步转变。
余定陆进一步分析,传统芯片的2D架构受限于电晶体密度难以继续提高,未来将不敷使用,因此半导体业已加速转向能容纳更高密度电晶体的3D架构设计;如3DNAND因具备单一面积有更多储存位元的优势,许多制造商正加速布局此一技术之发展,预期2015年3DNAND市场的资本支出将持续上扬。
此外,28与20奈米制程日趋成熟,以及FinFET制程可望在2015年进入量产,因此余定陆预期,晶圆代工厂将持续扩大资本支出;以2014年为例,晶圆厂的设备支出即可望增加10~20%。
另一方面,3D架构及先进制程发展,亦将促使半导体设备材料持续改朝换代。余定陆表示,过去半导体材料主要用到铜(Copper)、低介电材料(Low-k)、氮化物(Nitride)等三种元素以及微影制程(Lithography),不过随着3D电晶体架构世代来临,传统材料将不敷使用,而晶圆厂投资于微影制程设备的平均资本支出,亦将从过去的45%下降至15%,取而代之的是陆续问世的新型态精密材料工程技术,将在3DIC世代中扮演重要的角色。
事实上,应用材料已于日前推出物理气相沉积(PVD)系统--EnduraVentura。据了解,3D立体堆叠要求矽穿孔(TSV)的通孔深宽比须大于10:1,而Ventura系统具备更高的深宽比矽穿孔制程实力,在制造阻障层和晶种层上,比传统铜导线PVD系统,最多可节省50%的成本。
另一方面,Ventura系统的离子化PVD技术也能确保阻障层和晶种层的完整性,有助提高间隙填充及导线的可靠度,与3D晶片制程良率。这些技术研发大幅改善离子的方向性,提供超薄、连续和均匀且深入孔洞的金属镀层,达到矽穿孔制程所追求的无空洞填充(Void-freeFill)要求。随着Ventura系统的推出,应用材料对于晶圆级封装(WLP)应用的设备更形完备,这些应用包括矽穿孔、重布线路层(RDL)和凸块制程(Bump)等。
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